所属单位：国土资源部东北亚矿产资源评价重点实验室

电子探针是进行固态样品表面形貌、结构观察和微区成分分析测试的最主要仪器,是矿物学、岩石学、地球化学、矿床学、构造地质学、比较行星学和冶金材料科学等研究领域最基础的原位微束微区分析仪器。

电子探针利用高能汇聚电子束作为激发源轰击固态样品表面，产生各种有用信号（如二次电子、背散射电子、阴极荧光、特征X射线、连续X射线）。通过对相应电子图像（二次电子图像、背散射图像、阴极发光图像）的采集和分析，可以观察样品的表面的形貌、矿物相间的关系和内部结构特征；通过对特征X射线的波长（波谱仪WDS）或能量（能谱仪EDS）的测定和射线强度的测量可以对样品微区元素组成做定性和定量分析。

电子探针具有以下特点：（1）分析区域很小，可完成小于1μm²区域的成分分析；（2）分析的元素范围广，可测Be-U元素；（3）不破坏样品，可重复分析；（4）除了单点分析外，可进行线扫描分析和面扫描分析，以多种方式查明元素的分布状态和空间变化规律；（5）应用范围广，可测试各类固态样品；（6）分析快捷且成本较低。

实验室概况

电子探针实验室隶属于国土资源部东北亚矿产资源评价重点实验室。目前拥有日本JEOL电子探针一台（JXA-8230）。

实验室目前可以实现矿物、岩石、材料等各类固体样品的微区形貌和结构观察、高精度的微区（微米级）无损成分定量分析、高精度的元素线扫描和面扫描分析。实验室面向国内外地球科学领域的科研人员和研究生开放，主要服务于固体地球科学领域研究，包括岩石圈演化、矿产资源、环境科学、天体和行星演化等课题项目。

主要的应用有：

（1）背散射图像观察（BSE）；

（2）二次电子图像观察（SEI）；

（3）常规造岩矿物（包括氧化物、硅酸盐、磷酸盐、硫酸盐、碳酸盐矿物）中主量元素含量分析；

（4）金属硫化物中主要元素含量分析；

（5）造岩矿物中主要元素的面扫描分析（X-ray Mapping），如石榴石中Mg、Fe、Mn等元素；

 仪器设备

.日本电子JXA-8230型电子探针

该仪器由日本JEOL公司制造，于2014年2月开始安装使用。仪器配备钨灯丝/六硼化镧电子枪、4道波谱仪、8块分光晶体、OXFORD公司能谱仪和JEOL公司的阴极发光探测器。仪器束流范围为10^-5~ 10^-12A，目前可分析F-U间的元素。

该仪器可以获取高品质的背散射图像（BSE）、二次电子图像（SEI）和阴极发光图像（CL），用以观察矿物相内部和不同矿物相之间的显微结构关系。同时，根据需要可以对矿物成分进行点分析、线扫描分析、面扫描分析（同时可完成四个元素的面扫描），考察矿物元素在微米尺度上的组成及变化。

开放措施：

实验室对学校内外的研究人员开放。研究人员/仪器使用者，在经过实验室技术人员的操作培训后，可以自行在仪器上进行观察和测试分析，实验室提供技术支持和服务保障。 

 样品准备和注意事项：

1.拟分析样品应抛磨平整、表面洁净。所测试样品可以是矿物晶体、探针片、树脂靶等。

2.拟分析样品抛磨之后需镀导电膜（镀碳或镀金，可以在本实验室完成）。样品在镀导电膜之后尽量避免触碰其表面。

3.进行块状样品分析时：把样品切割成大小合适的单元，直径1cm左右（或小于1 cm×1cm），厚度要小于0.5 cm，表面平整，具有光滑的镜面。

实验室位置：吉林省长春市朝阳区建设街2199号 地球科学学院225室 欢迎来访